محققان ایرانی موفق به طراحی و ساخت میکروسکوپ های نیروی اتمی برای دانشگاه ها و پژوهشگاه شده اند.
به گزارش خبرگزاری دانا، میکروسکوپ های نیروی اتمی (AFM)، دسته گسترده ای از تجهیزات شناسایی در مقیاس نانو با عنوان میکروسکوپ های نیرویی هستند. امروزه دستگاه های تجاری متفاوتی با مبانی مشابه و حالات کاری مختلف عرضه شده اند که از نظر دقت و کیفیت تصاویر با یکدیگر تفاوت دارند.
یکی از انواع میکروسکوپ‌های نیروی اتمی پروب روبشی است که از یک پروب نوک تیز در ابعاد کمتر از ۸ نانومتر که بر روی نمونه حرکت می‌کند به شمار می روند. AFM علاوه بر تصویربرداری در مقیاس نانو به منظور بررسی خواص و ساختار سطحی مواد در ابعاد نانومتری نیز به کار می‌رود.
در همین راستا محققان ایرانی موفق به طراحی و ساخت میکروسکوپ های نیروی اتمی کاربردی در پژوهشگاهها و آزمایشگاههای دانشگاهها شدند.
هدف از این طرح بررسی روند انجام واکنش ها و تهیه تصاویر از روند پیشرفت آن‌ها مانند بررسی تأثیر یک دارو بر روی یک نمونه خاص یا بررسی روند تشکیل یک کریستال است.
برای دستیابی به این هدف لازم است تا بخش الکترونیک میکروسکوپ یکپارچه شده و با تغییراتی که اعمال می شود امکان ثبت تصویربرداری با سرعت بالا فراهم شود. در این طرح سرعت تصویر برداری قابل افزایش خواهد بود.
خواص قابل اندازه‌گیری با این دستگاه ایرانی شامل مورفولوژی هندسی، توزیع چسبندگی، اصطکاک، ناخالصی سطحی، جنس نقاط مختلف سطح، کشسانی، خواص مغناطیسی، بزرگی پیوندهای شیمیایی، توزیع بارهای الکتریکی سطحی و قطبیت الکتریکی نقاط مختلف است. در عمل از این قابلیت‌ها برای بررسی ویژگی‌هایی همچون خوردگی، تمیزی، یکنواختی، زبری، چسبندگی، اصطکاک و اندازه استفاده می‌شود.
دقت بالا، عدم محدودیت در بررسی اغلب سطوح در شرایط محیطی مختلف، عدم نیاز به آماده‌سازی نمونه در اغلب موارد، سرعت بالای اندازه‌گیری، تهیه تصویر سه‌بعدی و توانایی بررسی انواع خواص سطحی از جمله ویژگی های این سیستم به شمار می رود.
این دستگاه در حوزه‌های مختلف تکنولوژی کاربردی اعم از الکترونیک، هوافضا، خودروسازی، علم مواد، بیولوژی، ارتباطات از راه دور، داروسازی، لوازم آرایشی،پتروشیمی کاربرد دارد.
در حال حاضر کاربران این محصول نزدیک به ۸۰ دانشگاه و مرکز پژوهشی در داخل کشور است.قیمت محصول در مقایسه با نمونه مشابه خارجی با مشخصات مشابه، حدود ۶۰ درصد آن است.
